INDO-DIGITAL.COM INDO TESTER Alat Ukur Indonesia 
Alat Mengukur Ketebalan Lapisan Multifungsi TT270
Alat Pengukur Ketebalan lapisan type TT270 ini digunakan untuk menguji tebal tipisnya lapisan pada semua benda magnetik atau nonmagnetik yang menempel pada benda tersebut sebuah contoh ; mengukur ketebalan lapisan cat ataupun mengukur lapisan lainnya.
Coating thickness gauge type ini dilengkapi dengan berbagai macam probe pilihan agar bisa digunakan diberbagai aplikasi benda yang akan diuji, Data dari hasil pengujian tersebut bisa anda print sebagai data otentik anda.
- Spesifikasi
- Features
- Diskripsi
- Standards: DIN, ISO, ASTM, BS
- Calibration: Zero and foil calibration
- Statistics: Number of measurements, mean, standard deviation, maximum and minimum of 3000 readings
- Data memory: 640 readings
- Limits: Adjustable with alarm
- Interface: RS-232
- Working temperature: 0-40℃
- Power supply: rechargeable batteries 1.25V
- Dimensions: 230mm×86mm×47mm
- Weight: Approx. 530g
- Dua metode pengukuran: induksi magnetik (F) dan eddy current (N). Ketika F Probe dilengkapi, itu dapat mengukur lapisan non-magnetik di magnet substrat, ketika N probe dilengkapi, itu mengukur lapisan non-konduktif non-magnet substrat.
- 6 jenis probe yang tersedia untuk berbagai aplikasi: F400, F1, F1 / 90, F10, N1, CN02
- 2 mode pengukuran: kontinyu / tunggal
- 5 cara statistik: Nilai mean / Max. nilai / Min. nilai /angka pengujian. (No) / standar deviasi (S.DeV)
- 640 nilai yang terukur dapat disimpan
- Terintegrasi dengan printer untuk penggunaan yang mudah
- indikasi baterai rendah
- 2 saklar off mode: manual dan otomatis
| Probe model | F400 | F1 | F1/90º | F10 | N1 | CN02 | |
| Operating principle | Magnetic induction | Eddy current | |||||
| Measuring range (µm) | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0 to 1250μm 0 to 40μm (for chrome plate on copper) | 10~200 | ||
| Low range resolution (µm) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| Accuracy | One-point calibration (µm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
| Two-point calibration (µm) | ±[(1~3)H%+0.7] | ±[(1~3)H%+1] | ±[(1~3)%H+10] | ±[(1~3)%H+1.5] | – | ||
| Measuring conditions | Min curvature of the min area (mm) | Convex 1 | 1.5 | Flatten | 10 | 3 | Flatten |
| Diameter of the min area (mm) | φ3 | φ7 | φ7 | φ40 | φ5 | φ7 | |
| Critical thickness of substrate (mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | unlimit | |
Permintaan Penawaran
Segera lakukan permintaan penawaran sekarang juga untuk mendapatkan harga khusus!